歡迎進(jìn)入深圳為爾康科技有限公司網(wǎng)站!
Product
當(dāng)前位置:首頁(yè) / 產(chǎn)品中心 / 科研設(shè)備 / 分辨率測(cè)試卡
產(chǎn)品分類
PRODUCT CLASSIFICATION相關(guān)文章
RELATED ARTICLESJIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)),致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器,其中包括無損檢測(cè)儀器,JIMA分辨率測(cè)試卡,用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率,以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
JIMA RT RC-05分辨率測(cè)試卡 測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中 盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×3mm 芯片尺寸(W×D×T):8×8×0.2mm 圖案布局:T型 (3-10μm) I 型 (15-50μm) 線/空間尺寸:16種規(guī)格圖案,
13718096482